麻花天美星空果冻糖心

大尺寸双折射（应力）测量系统 EXICOR-GEN

双折射（应力）测量系统 EXICOR-GEN是Hinds Instruments公司的大尺寸高精度麻花天美星空果冻糖心测量系统，用于LED液晶玻璃基板的应力分布测量。

产物测量精度高（0.005 nm），且特定平台扫描，用于LED液晶面板尺寸（Exicor Gen 6 - 1550 mm x 1850 mm / Exicor Gen 5 - 1150 mm x 1350 mm ）； 

液晶基板应力分布测量，大型液晶基板应力分布测量，应力测量。Hinds，Exicor  GEN5， Exicor  GEN6。

Hinds Instruments公司的大尺寸高精麻花天美星空果冻糖心分布测量系统用于LED液晶玻璃基板的应力分布测量。产物测量精度高（0.005 nm），Hinds Instruments 公司的大尺寸高精麻花天美星空果冻糖心分布且特定平台扫描，Hinds Instruments 公司的大尺寸高精麻花天美星空果冻糖心分布用于LED液晶面板尺寸（Exicor Gen 6 - 1550 mm x 1850 mm / Exicor Gen 5  1150 mm x 1350 mm ）

对于很多偏振敏感的基板材料，诸如液晶显示玻璃基板，触屏手机基板，Hinds 大型液晶面板高精度麻花天美星空果冻糖心分布测量系统都可以很好用在系统上并得到很好的生产参数指导。

重要特点

? 低阶双折射测量中高灵敏度

? 同时测量双折射幅度和角度

? 精度重复性

? 高速测量

? 光学系统中无运动部件

? 可变尺寸光学元件的自动映射

? 光弹调制器技术

? 简单、易于操作 

应用

? 质量控制计量

? 低阶双折射测量

? 显示屏玻璃

? LCD

? 大型不规则平面玻璃和塑料

? 塑料薄膜

系统选项

? 动态扫描 (SIM)

? 远离障碍物

? 手动或自动倾斜载物台

? GEN5 或 GEN6上的厚度和翘曲传感器